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產品資料

HPS2526精密方塊電阻測試儀

如果您對該產品(pin)感(gan)興趣的話,可以
產品名稱: HPS2526精密方塊(kuai)電阻測試(shi)儀
產品型號: HPS2526
產品展商: 海爾帕科技(ji)
產品文檔: 無相關(guan)文檔

簡單介紹

HPS2526精密方塊電阻測試儀可方便地測量塑料薄膜、金屬鍍層方塊電阻(每平方厘米電阻量值)的儀器。均勻金屬薄層的厚度可用單位面積所體現的電阻表征,由于方阻與鍍層厚度成反比,也就可以由方阻計算出鍍層厚度。 HPS2526精密方塊電阻測試儀配有專用結構設計的四探針探頭和面測夾具,使得測試時壓力恒定,接觸可靠,可更詳細地分析薄膜金屬化的質量。


HPS2526精密方塊電阻測試儀  的詳細介紹

HPS2526

精密方塊電阻測試儀

     

 

    HPS2526精密方塊(kuai)電(dian)阻(zu)(zu)測(ce)試儀可(ke)(ke)方便地測(ce)量(liang)塑料薄膜、金(jin)屬(shu)鍍層(ceng)方塊(kuai)電(dian)阻(zu)(zu)(每(mei)平方厘(li)米電(dian)阻(zu)(zu)量(liang)值)的儀器(qi)。均勻金(jin)屬(shu)薄層(ceng)的厚(hou)度可(ke)(ke)用單位面(mian)積(ji)所體現的電(dian)阻(zu)(zu)表征,由(you)(you)于方阻(zu)(zu)與鍍層(ceng)厚(hou)度成反比,也就可(ke)(ke)以(yi)由(you)(you)方阻(zu)(zu)計算出鍍層(ceng)厚(hou)度。 儀器(qi)配有專用結構(gou)設計的四探(tan)針探(tan)頭和面(mian)測(ce)夾具(ju),使得測(ce)試時壓力恒定,接觸可(ke)(ke)靠,可(ke)(ke)更詳細地分析(xi)薄膜金(jin)屬(shu)化的質量(liang)。

 

性能特點

v 超大液晶人性化操作界面

v 點測(ce)和面測(ce)雙模式兼容(rong)

v 測量數據自動保持功能(neng)

v 超快測量并(bing)顯示讀數(shu)

v *高10檔量程,手動和自動模式

v 檔號顯(xian)示(shi)及(ji)檔計數功(gong)能

v 兼容各種(zhong)不同材料,系數任意設定

v 豐富的通訊接口可以與PC進行數據通訊及對儀器的遠程控制

  

應用

l   塑料薄膜

l   金屬鍍(du)層 

l   金屬(shu)化(hua)薄膜電容器

技術參數

產品型號

HPS2526

性能指標

顯示器

高清LCD液晶顯示

顯示位數

5

電阻測量

基本精度

0.1%

測量范圍

0.01mΩ/□ -200kΩ/

測量模式

點測和面測

測量功能

量程方式

自動,手動

測量速度

快速: 6 /秒,中速: 2/秒,慢速: 2 /

觸發方式

內部,手動,外部

校正功能

專用治具短路清零

測量端

四線制(2個檢測端和2個驅動端)5

分選和接口

分(fen)選功能

內建比較器:合格、上超和下超

訊響(xiang)

OFF,IN,HI,LO(音量可調)

接口(kou)配置

RS-232C接口/HANDLER/

一般規格

操作環境

0°C 40°C ,≤90%RH

電源要求

198V 242V(AC),47.5Hz 63Hz

功耗

30 VA

尺寸

335 mm() x 120 mm() x 320 mm()

重量

2kg

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