薄膜四探針方阻測試儀HPS58003是(shi)一款專門測量半導(dao)(dao)(dao)體薄層(ceng)(ceng)電(dian)阻(面電(dian)阻)的方塊電(dian)阻測試儀配用(yong)的四(si)探(tan)針(zhen)測試探(tan)頭，可(ke)用(yong)于測量一般半導(dao)(dao)(dao)體材料(liao)、導(dao)(dao)(dao)電(dian)薄膜(mo)(ITO透明氧化膜(mo))，塑料(liao)薄膜(mo)、金屬薄膜(mo)、金屬鍍(du)層(ceng)(ceng)等同類物質的薄層(ceng)(ceng)電(dian)阻。

           帶(dai)彈簧測試探頭(tou), 接(jie)觸可靠(kao), 工作穩(wen)定, . 使用(yong)(yong)時只要把探頭(tou)輕(qing)輕(qing)壓在被測鍍膜(mo)上面,   無需任何調節,新(xin)款方阻儀(yi)用(yong)(yong)5芯(xin)專用(yong)(yong)插座(zuo)代(dai)替原(yuan)有的香(xiang)蕉插座(zuo)，使得線纜不易(yi)折(zhe)損，探頭(tou)的使用(yong)(yong)壽命極大延(yan)長。

產品留言

標(biao)題

聯系人

聯系電話(hua)

內容

驗證碼

點擊換一張

注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!