薄膜方阻面測試專用(yong)極(ji)板式測試極(ji)HPS58004
HPS58004極(ji)(ji)板式測(ce)試(shi)極(ji)(ji)是一款專門測(ce)量半導(dao)(dao)體薄(bo)層電(dian)阻(zu)(zu)(zu)(面電(dian)阻(zu)(zu)(zu))的(de)方(fang)塊電(dian)阻(zu)(zu)(zu)測(ce)試(shi)儀配用的(de)面測(ce)試(shi)電(dian)極(ji)(ji),可(ke)用于測(ce)量一般半導(dao)(dao)體材(cai)料(liao)、導(dao)(dao)電(dian)薄(bo)膜(mo)(ITO透明氧化膜(mo)),塑(su)料(liao)薄(bo)膜(mo)、金(jin)屬薄(bo)膜(mo)、金(jin)屬鍍層等同類物質的(de)薄(bo)層電(dian)阻(zu)(zu)(zu)。
帶彈(dan)簧測試探(tan)頭, 接觸可靠(kao), 工作穩定, . 使(shi)用時只(zhi)要把探(tan)頭輕輕壓在被(bei)測鍍膜上面, 無需任何調節,*新款方阻儀用5芯專用插座代替(ti)原有的香蕉插座,使(shi)得線(xian)纜不易折損(sun),探(tan)頭的使(shi)用壽命極大(da)延長。
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